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SPR-5000紫外-可见-红外光谱辐射分析仪

采用三光栅单色仪和八通道滤色片分光,配合四组光性能光谱探测系统,具有极低的杂散光、高动态范围、高信噪比性能,并符合CIE NO.63要求,可连续一次测量紫外-可见-红外(200nm~3000nm)宽波段内光源的光谱功率分布及光度、辐射度参数。适合照明灯具产品及半导体发光器件LED产品的辐射安全分析。

  • 技术参数
  • 应用指南

功能:采用三光栅单色仪和八通道滤色片分光,配合四组光性能光谱探测系统,具有极低的杂散光、高动态范围、高信噪比性能,并符合CIE NO.63要求,可连续一次测量紫外-可见-红外(200nm~3000nm)宽波段内光源的光谱功率分布及光度、辐射度参数。适合照明灯具产品及半导体发光器件LED产品的辐射安全分析。


性能指标:
◆  探测器:Hamamatsu PMT/InGaAs/PbS
◆  分光器:三光栅单色仪和滤光片盘的双重分光。
◆  宽波长范围:200nm至3000nm(其它波段可定制)
◆  波长准确度:0.2nm(紫外,可见);0.5nm(红外)
◆  重复性:0.1nm;
◆  采样间隔:1nm、2nm、5nm,
◆  接口:USB2.0/RS232